本文由 普洛帝服務中心/陜西普洛帝測控技術有限公司 整理匯編

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• 電子半導體行業0.1微米顆粒檢測方案

  普洛帝測控 電子半導體行業0.1微米顆粒檢測方案[詳細]

  2024-09-17 03:38

  應用文章

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• 在線微納米液體顆粒檢測傳感器的電子半導體行業的應用

  在線微納米液體顆粒檢測傳感器可以對對清洗劑、半導體、超純水、電子產品、手機玻璃、平板玻璃、硅晶片、經濟型濾油設施，各類液壓試驗臺，海洋鉆采平臺監測，液壓機床運行監測，過濾濾芯檢測試驗臺、半導體顆粒監控、藥業高純水顆粒檢測等領域進行固體顆粒污染度檢測，及對有機液體、聚合物溶液進行不溶性微粒的檢測。目前是英國普洛帝分析測試集團向微納米結合檢測的重要產品。[詳細]

  2024-09-16 01:39

  應用文章

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• TOC在電子，半導體和電子行業的應用

  TOC在電子，半導體和電子行業的應用[詳細]

  2024-09-18 18:06

  產品樣冊

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• 電子半導體材料檢測：飛納臺式掃描電鏡在電子半導體的應用方案

  要應對如此多樣的材料及復雜的工藝，需要耗費大量的精力和時間。飛納電鏡可滿足您多樣化的材料檢測要求及復雜的制程工藝管控，為您提供簡單·時效·精確的半導體檢測方案[詳細]

  2025-02-25 11:03

  應用文章

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• 5994-4747ZHCN-安捷倫半導體行業解決方案

  5994-4747ZHCN-安捷倫半導體行業解決方案[詳細]

  2023-02-27 09:57

  應用文章

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• 半導體行業中的超純水質控

  半導體行業中的超純水質控[詳細]

  2004-08-03 00:00

  標準

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• 短波紅外相機在半導體行業的應用

  　短波紅外相機可以靠紅外線成像。這點是普通相機不能做到的。短波紅外的成像原理與可見光十分相似，不同的是短波紅外的波長可以“繞過”煙、霧、霾中的細小顆粒；相比中波紅外、長波紅外，短波紅外擁有更好的細節分辨和解析能力，能夠很好的識別出該目標是。這就使得短波紅外在霧霾、煙霧濃重的情況下，仍可對物體清晰成像。 　　現代潛艇的光電桅桿需要多光譜的成像與檢測。例如，可見光成像通常無法透過霧霾、塵、煙觀察目標，然而短波紅外卻很容易實現。這種情況下，短波紅外相機有著更好的成像效果。 　　短波紅外與中長波紅外的一項重要差異是，它利用反射光成像，而不是輻射熱成像。中長波相機無法看到海上目標的重要特征，比如說艦船的名字、船的特征等，短波紅外相機可以在此提供輔助 　　純凈的硅錠在室溫下是透明的，而摻雜型的硅錠在室溫下是不透明的，并且隨著溫度的升高，不透明度也隨之升高； 短波紅外相機的感光范圍是900-1700nm，而1200nm以上的光可以輕易的穿透摻雜型硅錠，這使得利用短波紅外在半導體材料的品質檢測、硅錠和晶片成品的缺點或裂紋檢測以及晶元切割過程中的激光對準等方向上大有所為。 [詳細]

  2024-09-12 16:00

  應用文章

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• 特氟龍在半導體行業的主要應用

  特氟龍在半導體行業的主要應用[詳細]

  2024-09-16 07:42

  安裝說明

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• 飲料行業水質檢測方案

  飲料行業水質檢測方案[詳細]

  2024-09-16 18:47

  專利

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• 制藥行業溫度校準方案

  制藥行業溫度校準方案[詳細]

  2015-09-16 00:00

  操作手冊

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• 箱包行業儀器方案書

  箱包行業儀器方案書[詳細]

  2013-05-08 00:00

  標準

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• 民用凈水行業水質檢測方案

  民用凈水行業水質檢測方案[詳細]

  2024-09-28 00:39

  其它

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• 供電行業溫度校準方案

  供電行業溫度校準方案[詳細]

  2024-09-17 19:45

  其它

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• 電子縮合測試方案

  電子縮合測試方案[詳細]

  2015-09-09 00:00

  實驗操作

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• 英斯特朗電子行業測試

  英斯特朗電子行業測試[詳細]

  2015-07-09 00:00

  選購指南

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• 電子行業的測試挑戰

  電子行業的測試挑戰[詳細]

  2015-07-09 00:00

  標準

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• ZG電子行業超純水國家標準

  ZG電子行業超純水國家標準[詳細]

  2009-02-11 00:00

  安裝說明

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• 使用微型 ATR FTIR 成像系統在電子和半導體行業中進行無損故障/缺陷分析

  電子和半導體行業高度依賴于故障和缺陷分析，以Z*程度提高工作效率并縮短昂貴的停機時間。隨著技術的不斷發展，生產出的設備越來越小巧，而其生產工藝也越來越復雜精細。因存在顆粒物和化學污染物引起的高成本停機對正常生產操作的影響越來越大。任何污染物的出現都需要停止生產過程，同時準確并可靠地表征缺陷、確定污染源并設法補救。Zda限度縮短完成這一過程所需的時間，實際上能夠節省數百萬美元之多。 [詳細]

  2016-07-18 00:00

  標準

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• 使用微型 ATR FTIR 成像系統在電子和半導體行業中進行無損故障/缺陷分析

  使用微型 ATR FTIR 成像系統在電子和半導體行業中進行無損故障/缺陷分析[詳細]

  2016-06-28 00:00

  其它

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• NexION300S測定半導體行業中使用有機溶劑的雜質

  半導體行業中Z常用的兩種有機溶劑是異丙醇（IPA）和丙二醇甲醚醋酸酯（PGMEA）。兩種有機溶劑都必須檢測痕量金屬污染物的含量，因為這些物質的存在將會對存儲設備的可靠性產生不利影響。由于具有快速測定各種工藝化學品中超痕量濃度待測元素的能力，電感耦合等離子體質譜儀（ICP-MS）已成為了質量控制不可缺少的分析工具。本應用報告證明了NexION300ICP-MS去除干擾，從而在使用高溫等離子體的條件下通過一次分析就能夠很容易的對IPA和PGMEA中全部痕量水平的雜質元素進行測定的能力。這一實驗在一次測定中同時使用標準模式和反應模式可以得到**的分析結果。[詳細]

  2018-08-17 10:00

  產品樣冊

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