設備更新推薦丨脈沖光源
英國愛丁堡儀器
愛丁堡儀器光源
儀器介紹
隨著光致發光(PL)研究的發展，對測量微弱的光致發光信號的高靈敏度儀器的需求日益增長。除了具有良好雜散光抑制能力的光子計數探測器和單色器外，激發樣品的光源也是測試時需要考慮的關鍵因素。愛丁堡儀器公司的時間分辨PL光譜儀可以配備各種類型的脈沖激光器和LED，能夠在TCSPC和多通道掃描(MCS)模式下工作，如EPL/EPLED, VPL/VPLED和HPL系列。
儀器特點
+ EPL&EPLED -皮秒脈沖激光器&LEDs
EPL系列已經被廣泛應用于時間分辨PL光譜，可提供高達20 MHz的重復頻率。
HPL是高功率和高重復率皮秒脈沖激光器。可以在高達80MHz的重復頻率下工作，并提供兩種操作模式:標準及高功率模式，高功率模式下能夠產生相較于于標準模式大約10倍以上能量輸出（依賴于波長）。
VPL和VPLED光源被設計成在MCS模式下工作，是亞微秒壽命（1-10us）的理想選擇,特別適用于TADF材料。
應用范圍
+ 顯示材料-EPL
Nature612, 679–684 (2022)
+ 鈣鈦礦太陽能電池-HPL
+ TADF-VPL
Nat Commun15, 6175 (2024).
+ 單線態氧-VPL
Nat. Mater. (2024). https://doi.org/10.1038/s41563-024-01933-w
+
+
索取樣本 聯系報價
+ 4008107898 +
+ www.techcomp.cn +
+ TIL_AI@techcomp.cn +
全部評論(0條)
推薦閱讀
-
- 設備更新推薦丨脈沖光源
- 除了具有良好雜散光抑制能力的光子計數探測器和單色器外，激發樣品的光源也是測試時需要考慮的關鍵因素
-
- 設備更新推薦丨脈沖光源
- 除了具有良好雜散光抑制能力的光子計數探測器和單色器外，激發樣品的光源也是測試時需要考慮的關鍵因素
-
- 設備更新推薦丨變溫附件
- 除了具有良好雜散光抑制能力的光子計數探測器和單色器外，激發樣品的光源也是測試時需要考慮的關鍵因素
-
- 設備更新選型指南丨超快熒光三維成像技術推薦
- 市面絕大多數共聚焦顯微鏡采用點掃描式激光共聚焦技術，成像速度較慢，難以滿足活細胞動態觀測、大視野快速掃描等成像
-
- 設備更新選型指南丨生物共聚焦拉曼技術推薦
- 拉曼光譜因其無損、非接觸性的快速檢測特性，已引起廣大科研人員的濃厚興趣，并廣泛應用于各個行業。
-
- 設備更新選型指南丨超快熒光三維成像技術推薦
- 市面絕大多數共聚焦顯微鏡采用點掃描式激光共聚焦技術，成像速度較慢，難以滿足活細胞動態觀測、大視野快速掃描等成像
-
- 設備更新指南 | 熒光探針表征技術推薦
- 設備更新指南 | 熒光探針表征技術推薦
-
- 設備更新指南 | 電池表征技術推薦
- 推薦閱讀高效賦能，精準施力——HORIBA 光學光譜解決方案助推大規模儀器設備更新設備更新指南 | 能源/光
-
- 【設備更新儀器推薦】橢圓偏振光譜儀——UVISEL PLUS
- 產品名稱：橢圓偏振光譜儀 產地：法國 型號：UVISEL PLUS典型用戶：NASA 戈
-
- 【設備更新儀器推薦】氧/氮/氫分析儀—— EMGA-Expert
- 產品名稱：氧/氮/氫分析儀 產地：日本 型號：EMGA-Expert典型用戶：北京科技大
-
- 【設備更新儀器推薦】全自動模塊化熒光壽命光譜儀——DeltaFlex
- 產品名稱：全自動模塊化熒光壽命光譜儀 產地：英國 型號：DeltaFlex典型用戶： 山
-
- 【設備更新儀器推薦】熒光及吸收光譜儀—— Duetta
- 產品名稱：熒光及吸收光譜儀 產地：美國 型號：Duetta典型用戶：北京大學、浙江大學、
-
- 【設備更新儀器推薦】高性能全自動拉曼光譜儀——XploRA PLUS
- 產品名稱：高性能全自動拉曼光譜儀 產地：法國 型號：XploRA PLUS典型用戶：廈門
-
- 設備更新指南 | 能源/光伏表征技術推薦
- 推薦閱讀高效賦能，精準施力——HORIBA 光學光譜解決方案助推大規模儀器設備更新 HORIBA 開放日——
-
- 【設備更新儀器推薦】全新氧/氮/氫分析儀——EMGA
- HORIBA 全新的 EMGA 氧/氮/氫分析儀，追求更高檢測效率，響應大規模設備更新政策，助力企業降本增效。
-
- 【設備更新儀器推薦】全自動模塊化熒光壽命光譜儀——DeltaFlex
- 【設備更新儀器推薦】全自動模塊化熒光壽命光譜儀——DeltaFlex
-
- 直播預告 | 2024推動大規模設備更新儀器推薦會
- 4月16日 （周二）11:20 - 12:00
-
- 推動大規模設備更新 2024年儀器推薦會——高校專場
- 推動大規模設備更新 2024年儀器推薦會——高校專場
-
- 【設備更新儀器推薦】納米粒度及Zeta電位分析儀 —— SZ-100V2
- 產品名稱：納米粒度及Zeta電位分析儀 產地：日本 型號：SZ-100V2典型用戶：天
①本文由儀器網入駐的作者或注冊的會員撰寫并發布，觀點僅代表作者本人，不代表儀器網立場。若內容侵犯到您的合法權益，請及時告訴,我們立即通知作者，并馬上刪除。
②凡本網注明"來源：儀器網"的所有作品，版權均屬于儀器網，轉載時須經本網同意，并請注明儀器網(m.189-cn.com)。
③本網轉載并注明來源的作品，目的在于傳遞更多信息，并不代表本網贊同其觀點或證實其內容的真實性，不承擔此類作品侵權行為的直接責任及連帶責任。其他媒體、網站或個人從本網轉載時，必須保留本網注明的作品來源，并自負版權等法律責任。
④若本站內容侵犯到您的合法權益，請及時告訴,我們馬上修改或刪除。郵箱：hezou_yiqi
朗思傳感科技（深圳）有限公司
滬公網安備 31011502008050號
參與評論
登錄后參與評論