蘇州納米所線下講座: 原子力顯微鏡在KPFM跟材料機械性質微區分析上的進展
報告摘要:
介電電容器儲能技術由于具有極高的功率密度和超快的放電速率等優點使其在電動汽車,高功率激光脈沖武器及電磁彈射等領域具有巨大的應用潛力。但是電介質電容器儲能密度較低,溫度穩定性較差,這些缺點限制了其實際應用。作為第二大類鐵電體的四方鎢青銅結構(Tetragonal tungsten bronze structure,TTBs)的電介質陶瓷在定制局部化學計量比和晶格結構方面提供了很大的靈活性,同時TTBs儲能陶瓷的可以在無鉛且無Bi/Na等易揮發性元素的條件下獲得較高的儲能性能,具有很大應用的潛力。但是相較于廣泛研究的鈣鈦礦結構鐵電陶瓷而言,TTBs的電介質陶瓷由于其復雜的晶體結構,擊穿電場較低而導致的較差的儲能性能而受到較少的關注。通過構建弱耦合極性納米微區以及提高構型熵等策略提高了以SrxBa1-xNb2O5為代表的四方鎢青銅結構無鉛介電陶瓷的儲能性能。通過對介電陶瓷的PFM表征確定了高動態極性納米微區的存在,證明了性能優化來源于弛豫特性的顯著增強。在獲得了優異的綜合儲能性能的同時增強了溫度穩定性,為介電儲能電容器提供了新的候選材料和有效的性能優化策略。
掃碼查看會議介紹
申請線上/線下參會
會議地址:
中國科學院蘇州納米技術與納米仿生研究所C棟二樓
日期:2024年10月26日線下會議
報告人介紹:
高陽飛博士,現就讀于西安交通大學前沿科學技術研究院先進電子中心,導師為中心主任婁曉杰教授(國家級別青年人才)。碩士期間曾在西安交通大學納米學院(蘇州)進行MEMS濺射薄膜壓力傳感器研究,目前的主要研究方向為用于高功率脈沖器件的電介質儲能陶瓷的性能優化與機理研究。截止目前已發表論文23篇,H-index為13,其中以第一作者或共同第一作者身份共發表論文5篇(發表于Advanced Materials、Nature Communications、Nano Energy、Composites Part B: Engineering、Chemical Engineering Journal等期刊),影響因子累計超過80。研究成果多次被西安交通大學主頁及
第六屆納米科學大會介紹(NSSC-6):
會議聯系人: 宗秋靈
聯系電話:13611071428(微信同號)
辦公室號碼:0512-62872723
郵箱:linama@parksystems.com
全部評論(0條)
推薦閱讀
-
- 蘇州納米所線下講座: 原子力顯微鏡在KPFM跟材料機械性質微區分析上的進展
- 通過對介電陶瓷的PFM表征確定了高動態極性納米微區的存在,證明了性能優化來源于弛豫特性的顯著增強。在獲得了優異的綜合儲能性能的同時增強了溫度穩定性,為介電儲能電容器提供了新的候選材料和有效的性能優化策略。
-
- Park線下講座: 原子力顯微鏡在KPFM跟材料機械性質微區分析上的進展
- 本次為您報告Pinpoint mode在微區表面特性量測的進展,以及基于開爾文探針力顯微鏡的Sideband KPFM ,其利用探針尖端與樣品之間的局部相互作用計算,從而提高提高表面電位測量的靈敏度和空間分辨率
-
- 線下講座 | 微區掃描電化學研討會暨VersaSCAN微區用戶培訓會-西安
- 11月13日 下午13:00-18:00 西安
-
- 線下講座 | 微區掃描電化學研討會暨VersaSCAN微區用戶培訓會-西安
- 11月13日 下午13:00-18:00 西安
-
- 線下講座: 導電原子力顯微鏡在層狀材料表面改性中的應用 (中國科學院長春光學精密機械與物理研究所 徐海研究員)
- 通過比較不同等離子體源對碲輻照后引起的電子結構變化,厘清了這種電子傳輸性能增強的物理機制。實驗發現的這種導電性能異常行為,對指導碲基材料在電子器件領域的潛在應用具有重要意義。
-
- 講座直播:原子力顯微鏡在半導體領域的應用
- 隨著半導體芯片技術進展, 元器件特征尺寸橫向微縮的同時, 對于元器件縱向維度上的微縮,堆疊與平坦化控制也隨之日趨重要, 相關線上制程監控也越來越重要。
-
- 預算299萬 中科院蘇州納米所采購轉盤共聚焦顯微鏡
- 近日,中國科學院蘇州納米技術與納米仿生研究所轉盤共聚焦顯微鏡采購項目進行公開招標,并于2024年11月01日09點30分開標。
-
- 我國在光電探測器材料 鈣鈦礦場效應晶體管研究上取得進展
- 基于鈣鈦礦材料的光電器件和電子器件制備工藝簡單。是目前科學家們研究的熱點材料之一。
-
- 微區分析 | CAMECA儀器助力下一代鋰離子電池材料研發
- 微區分析 | CAMECA儀器助力下一代鋰離子電池材料研發
-
- 網絡研討會 | 微區XRF釋放SEM在元素分析中的全部潛力
- 網絡研討會 | 微區XRF釋放SEM在元素分析中的全部潛力
-
- Spectra ETEM: 用于在納米和原子尺度上原位動態探索材料變化的環境透射電子顯微鏡
- Spectra ETEM: 用于在納米和原子尺度上原位動態探索材料變化的環境透射電子顯微鏡
①本文由儀器網入駐的作者或注冊的會員撰寫并發布,觀點僅代表作者本人,不代表儀器網立場。若內容侵犯到您的合法權益,請及時告訴,我們立即通知作者,并馬上刪除。
②凡本網注明"來源:儀器網"的所有作品,版權均屬于儀器網,轉載時須經本網同意,并請注明儀器網(m.189-cn.com)。
③本網轉載并注明來源的作品,目的在于傳遞更多信息,并不代表本網贊同其觀點或證實其內容的真實性,不承擔此類作品侵權行為的直接責任及連帶責任。其他媒體、網站或個人從本網轉載時,必須保留本網注明的作品來源,并自負版權等法律責任。
④若本站內容侵犯到您的合法權益,請及時告訴,我們馬上修改或刪除。郵箱:hezou_yiqi
參與評論
登錄后參與評論