金現代芯片LIMS系統通過整合實驗室資源、優化流程，為芯片研發與制造提供全生命周期管理支持，有效攻克芯片實驗室管理難題，為芯片企業提升創新能力、保障產品質量、控制成本提供堅實保障。

核心功能

1.樣品全生命周期管理

準確追蹤：為每個樣本賦予二維碼/條形碼，記錄來源、批次、工藝參數等信息，并與智能倉儲系統集成，實現快速定位。

數據關聯：自動關聯樣本在不同實驗環節的數據，構建可視化圖譜，加速工藝優化。

2.自動化數據采集與分析

設備直連：與探針臺、XRD等設備無縫對接，實時采集高頻數據，結合SPC監控工藝穩定性。

智能分析：通過AI算法挖掘數據異常點，為研發人員提供決策支持。

案例：可靠性實驗數據量提升4倍，工藝參數調試周期從6周壓縮至2周。

3.設備效能優化

預測性維護：基于設備運行數據自動調整維護計劃，延長使用壽命。

OEE分析：通過整體設備效率計算，優化設備排程，減少停機風險。

3.跨環節協同與流程標準化

標準化流程：內置AEC-Q100、可靠性測試等標準模板，固化設計驗證、工藝開發等流程。

自動化流轉：任務自動分配、審批提醒，縮短跨部門協作周期。

4.合規性與質量管控

合規性審查：自動生成符合CNAS、ISO/IEC 17025等標準的審計追蹤記錄。

電子實驗記錄本（ELN）：替代紙質記錄，確保數據不可篡改，滿足法規要求。