X射線光電子能譜儀
是一種表面分析技術，主要用來表征材料表面元素及其化學狀態。基本原理是使用X-射線與樣品表面相互作用，利用光電效應，激發樣品表面發射光電子，利用能量分析器，測量光電子動能(K.E)，根據B.E=hv-K.E-W.F，進而得到激發電子的結合能(B.E)。
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X射線光電子能譜儀產品列表
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PHI 硬X射線光電子能譜儀
- 品牌：日本Ulvac-Phi
- 型號：PHI Genesis 900
- 產地：亞洲 日本
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PHI X射線光電子能譜儀
- 品牌：日本Ulvac-Phi
- 型號：PHI Genesis 500
- 產地：亞洲 日本
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K-Alpha X射線光電子能譜儀
- 品牌：賽默飛世爾
- 型號：K-Alpha
- 產地：歐洲 英國
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EscaLab Xi+ X射線光電子能譜儀
- 品牌：賽默飛世爾
- 型號：EscaLab Xi+
- 產地：歐洲 英國
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AXIS SUPRA X射線光電子能譜儀
- 品牌：島津Shimadzu
- 型號：
- 產地：亞洲 日本
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AXIS NOVA X射線光電子能譜儀
- 品牌：島津Shimadzu
- 型號：
- 產地：亞洲 日本
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PHI Quantes 硬X射線光電子能譜儀 （Al/Cr 雙掃描聚焦型）
- 品牌：日本Ulvac-Phi
- 型號：
- 產地：亞洲 日本
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PHI X射線光電子能譜儀
- 品牌：日本Ulvac-Phi
- 型號：PHI GENESIS
- 產地：亞洲 日本
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美國PHI 全自動多功能掃描聚焦 X射線光電子能譜儀GENESIS
- 品牌：美國PHI
- 型號：GENESIS
- 產地：美洲 美國
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賽默飛 K-Alpha X射線光電子能譜儀XPS
- 品牌：賽默飛
- 型號： K-Alpha
- 產地：美洲 美國
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￥3570000 -
島津Kratos X射線光電子能譜儀AXIS SUPRA+
- 品牌：日本島津
- 型號：KratosXAXISSUPRA+
- 產地：亞洲 日本
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美國賽默飛 X射線光電子能譜儀 EscaLab Xi+
- 品牌：美國賽默飛
- 型號： EscaLab Xi+
- 產地：美洲 美國
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美國賽默飛 X射線光電子能譜儀 K-Alpha
- 品牌：美國賽默飛
- 型號： K-Alpha
- 產地：美洲 美國
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島津X射線光電子能譜儀 AMICUS
- 品牌：日本島津-GL
- 型號：AMICUS型
- 產地：歐洲 英國
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X射線光電子能譜儀 AXIS NOVA
- 品牌：日本島津-GL
- 型號：AXIS NOVA
- 產地：歐洲 英國
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島津X射線光電子能譜儀 AXIS Supra
- 品牌：日本島津-GL
- 型號：AXIS Supra
- 產地：歐洲 英國
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賽默飛 Escalab Qxi X射線光電子能譜儀 XPS
- 品牌：賽默飛
- 型號： Escalab Qxi
- 產地：美洲 美國
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￥6800000 -
蘇州華萃經濟型X射線光電子能譜儀
- 品牌：華萃儀器
- 型號：RB-XPS150
- 產地：江蘇 蘇州
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￥3000000 -
島津 AXIS SUPRA+ X射線光電子能譜儀XPS
- 品牌：日本島津
- 型號： AXIS SUPRA+
- 產地：亞洲 日本
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￥8000000
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- X射線光電子能譜儀
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