剪切干涉儀

• 提供5種型號(hào)，光束直徑范圍從1到50 mm

• 定性地確定光的準(zhǔn)直性

• 磁鐵球?qū)骞潭ㄔ诘鬃?/p>

• 適用的光束直徑刻在板上

根據(jù)所用剪切板的不同，剪切干涉儀可用于直徑小到1 mm、大到50 mm的入射光。剪切干涉儀產(chǎn)生的干涉條紋對(duì)光束發(fā)散很敏感，因此可以用來(lái)定性地確定光是否準(zhǔn)直。如右圖所示，剪切板有三個(gè)鋼球，以磁性吸附的方式固定在板的底部。當(dāng)采用不同直徑的光束時(shí)，這種磁性固位機(jī)制易于更換不同的平板。兼容的平板和底座型號(hào)請(qǐng)查看規(guī)格標(biāo)簽。

此外，底板的背面鉆有通孔，因此可以使得透射光通過(guò)楔形光學(xué)平板繼續(xù)毫無(wú)阻礙地傳播。除了SI500，所有型號(hào)的通孔均為SM1螺紋(1.035"-40)。SI500的通孔為?2.95英寸(?75 mm)滑孔。底板、散射屏和剪切板包裝在一個(gè)手提箱內(nèi)。

請(qǐng)注意由于SI100、SI254和SI500剪切板的厚度原因，剪切板的后表面會(huì)超出安裝板(如右圖所示)。因此，當(dāng)插入或者移除這些板的時(shí)候要格外小心，尤其是安裝了SICP或者SICPSM1籠式轉(zhuǎn)接板的情況下。

楔形光學(xué)平板通過(guò)三個(gè)磁塊夾持住。

規(guī)格

1. 為了確保能產(chǎn)生干涉，請(qǐng)檢查所用的光源的有xiao相干長(zhǎng)度大于光程長(zhǎng)(ΔOPL)的近似變化。當(dāng)使用光源的相干長(zhǎng)度達(dá)到ΔOPL的幾倍，干涉條紋的對(duì)比度會(huì)下降。一旦相干長(zhǎng)度接近ΔOPL，就是在對(duì)非相干光有xiao成像。假設(shè)平行反射表面被厚度分開，針對(duì)UVFS(n=1.457@632.8 nm)計(jì)算的ΔOPL列在上表中。

2. 由于光學(xué)元件的厚度，剪切儀的背面會(huì)超出安裝板。因此，在插入或移除這些板的時(shí)候，尤其是安裝了SICP和SICPSM1這些籠式轉(zhuǎn)接件時(shí)，要格外小心。

1. 楔形板用UVFS制成

2. 帶有不同楔形角的不同板可以提供不同大小的光束。這是優(yōu)化特定光束直徑的板之間距離，從而產(chǎn)生干涉條紋。

3. SIVS是設(shè)計(jì)用來(lái)觀察由小直徑光束產(chǎn)生的條紋。雖然它與SI254兼容，但沒(méi)bi要和SI254一起使用，因?yàn)镾I254就是用來(lái)觀察大直徑光束。

上圖是UVFS在光垂直入射時(shí)的透過(guò)率曲線。其中UVFS樣品未鍍膜，厚度為1 mm，數(shù)據(jù)包含表面反射。

森泉為您的科研事業(yè)添磚加瓦：

激光控制：激光電流源、激光器溫控器、激光器控制、伺服設(shè)備與系統(tǒng)等等

探測(cè)器：光電探測(cè)器、單光子計(jì)數(shù)器、單光子探測(cè)器、CCD、光譜分析系統(tǒng)等等

定位與加工：納米定位系統(tǒng)、微納運(yùn)動(dòng)系統(tǒng)、多維位移臺(tái)、旋轉(zhuǎn)臺(tái)、微型操作器等等

光源：半導(dǎo)體激光器、固體激光器、單頻激光器、單縱模激光器、窄線寬激光器、光通訊波段激光器、CO2激光器、中紅外激光器、染料激光器、飛秒超快激光器等等

光機(jī)械件：用于光路系統(tǒng)搭建的 gao 品 zhi 無(wú)應(yīng)力光機(jī)械件，如光學(xué)調(diào)整架、鏡架、支撐桿、固定底座等等

光學(xué)平臺(tái)：主動(dòng)隔振平臺(tái)、氣浮隔振臺(tái)、實(shí)驗(yàn)桌、剛性工作臺(tái)、面包板、隔振、隔磁、隔聲綜合解決方案等等

光學(xué)y件：各類晶體、光纖、偏轉(zhuǎn)鏡、反射鏡、tou射鏡、半透半反鏡、濾光片、衰減片、玻片等等

染料：激光染料、熒光染料、光致變色染料、光致發(fā)光染料、吸收染料等等