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弱吸收儀 - 共光路干涉吸收儀

品牌：OPCROWN
型號： 02
產地：北京門頭溝區
供應商報價：面議

北京昊然偉業光電科技有限公司更新時間：2024-11-18 10:40:55

銷售范圍售全國

入駐年限第6年

營業執照已審核

同類產品光學材料測試(12件)

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產品特點

PCI弱吸收儀特點:
精度高: 1 ppm;
—次測量可以區分體、面吸收;
掃描速度快(幾分鐘);
對樣品規格要求不高;
操作方便、簡單。

詳細介紹

產品介紹：

弱吸收-共光路干涉吸收儀

測量原理

Pump 光(泵浦光)為一束光束質量較好的強激光聚焦到待測樣品上，光吸收的存在將在樣品內部產生熱波，從而在樣品內部形成周期性的梯度折射率分布，即熱透鏡效應，當一束Probe beam(探測光)經過熱透鏡效應區域與pump光相交時，探測光在該焦點處波前發生畸變引起點衍射共路干涉，并產生周期性相位畸變信號。探測器通過探測其相位畸變情況并由鎖相放大器信號處理，最后由軟件計算顯示出待測樣品的吸收值。

PCI弱吸收儀特點：

精度高: 1 ppm；
一次測量可以區分體、面吸收；
測量方式：透射式、反射式（可選）
掃描速度快（幾分鐘）；
對樣品規格要求不高；
操作方便、簡單。

PCI弱吸收儀應用領域：

光學薄膜；
光學晶體材料；
光學鏡片。

PCI弱吸收儀性能

測量晶體（LBO、YVO4、KTP…）或光學產品（K9、BK7、UVFS…）內部材料的弱吸收（體吸收）；
測量晶體或光學產品的表面吸收或薄膜吸收。

PCI 指標說明

項目	參數說明
pump波長	1064nm
測量精度	1064nm：面吸收:1ppm；體吸收:1ppm/cm
樣品規格	方形、圓形均可最小尺寸（mm）：3x3x3；最大尺寸（mm）：50x50x50；150x150x50 可定制樣品尺寸
掃描分辨率	10ms單次，10um-4mm/s掃描
測試速度	常規2min/片（相對6mm厚度）
區分體、面吸收	一次測量可以區分體、面吸收
軟件掃描功能	AbMat-1D: 一維逐點掃描 AbMat-2D: 二維吸收立體掃描
掃描方式	長度/面/時間掃描

PCI 配置說明

1.光源	Probe光源 632nmHe-Ne 激光器（原裝進口） -最大功率：2mw -功率穩定性：<0.1% -發散角：1.3mrad -偏振比：500:1 Pump光源 #1064nm 光纖激光器 -平均功率： 20W（CW） -光束質量M2：<1.5 -功率穩定性：＜2%(超過5 小時) -偏振：隨機 -制冷方式：風冷 -偏振光系統
2.探測部分	原裝進口含鎖相放大器、光斬波器、探測器、功率計、二維調整架等。
3.載物臺部分	原裝進口含三維步進電機、樣品支架等
4.光學元件部分	反射鏡、透鏡、功率調節器等
5.軟件部分	實時數據采集，自動保存，數據分析等。一維逐點掃描二維吸收立體掃描
6.其它說明	建議設備安裝在超凈間環境；建議配UPS電源。