主要用途

CRESBOX半自動四探針測試儀可用于測試硅晶片及擴散層、外延層、ITO導電薄膜、金屬薄膜等材料的電阻率和方塊電阻。

特點

?? 具有圖譜軟件功能，可作二維、三維圖形；

?? 具有厚度/邊緣/溫度補償功能；

?? 全覆式暗箱測試清除測量環境干擾；

?? 內含溫度傳感器

?? USB接口。