Thermo ScientificTM Talos?F200X掃描/透射電子顯微鏡（S / TEM）將出色的高分辨率S / TEM和TEM成像與業(yè)界領(lǐng)xian的能量色散X射線光譜（EDS）信號檢測和3D化學表征以及成分映射相結(jié)合。 Talos F200X S / TEM允許在所有尺寸（1D-4D）中進行最快和最精確的EDS分析，以及用于動態(tài)顯微鏡的快速導航的**HRTEM成像。 Talos F200X S / TEM完成所有這些工作，同時提供最高的穩(wěn)定性和最長的正常運行時間。

STEM成像中的最高分辨率和吞吐量

Talos F200X S / TEM可在多個維度上提供最快，最精確的納米材料定量表征。 Talos F200X S / TEM具有旨在提高產(chǎn)量，精度和易用性的創(chuàng)新功能，是學術(shù)，政府和工業(yè)研究環(huán)境中高級研究和分析的理想選擇。