將AFSEM集成到一個Zeiss Leo 982掃描電子顯微鏡中(左)，對樣品表面進行掃描成像(右)，對樣品表面進行掃描。當在AFM和SEM成像之間交替時，不需要轉移樣品或打破真空。使用AFSEM，一切都可以進行內聯！

    對于產品或材料分析，通常需要用多種技術分析一個樣品或者同一個器件，并尋找參數之間的相關性。如果樣品需要使用SEM和AFM這兩種的成像技術，就意味著我們需要找到感興趣的區域并定位它，再拿到另一個設備中尋找這個感興趣的區域，才能實現對同樣的區域進行分析。有什么能比直接把AFM放在SEM里面來的簡單呢？ 

對無支撐石墨烯和石墨烯相關材料進行掃描電鏡和AFM原位分析。在低電壓掃描電子顯微鏡下，我們可以對一個懸空的石墨烯薄片的樣品進行成像，以確定層數和厚度(a)。然后，利用AFM(b+c)實現更高的分辨率和更好的對比度。

掃描電鏡圖像(A)、放大的圖像(B)和相關的AFM成像(C)，測量結果來自FEI Quanta 600 FEG ESEM。

      AFSEM適用于大多數SEM或雙光束(SEM/FIB)系統。可以直接安裝在系統腔室的倉門上，同時樣品臺保持不變。此外，AFSEM采用一種自感應懸臂探針，無需激光與傳感器。 AFSEM在電鏡中，夾持探針的懸臂梁只需要極靴與樣品之間4.5毫米的空間。因此，AFSEM可以與各種標準的SEM兼容，GETec公司能夠處理任何兼容SEM系統真空腔內的安裝。也正是這種優雅小巧的設計使得掃描電子顯微鏡能夠配合AFM技術實現的亞納米級的形貌探測。  

   由于AFSEM小巧的設計維護了SEM功能的完整性，可以實現與其他標準的掃描電鏡分析技術相結合同時使用，如常規FIB、FEBID和EDX，以及SEM中可搭配的拉伸機，應力測試，機械手等等

AFSEM與Deben 200N 拉伸試驗臺可以同時集成在Philips XL40 SEM實現試樣拉伸形變過程的原位觀察和形貌探測。這是一個創新的實驗解決方案，用來研究拉力作用下金屬試樣的拉伸形變和頸縮過程中，樣品表面形貌和粗糙度的變化。