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賽默飛 Talos F200X G2 透射電子顯微鏡 S/TEM

品牌：賽默飛
型號： Talos F200X S/TEM
產地：美洲美國
供應商報價：￥9999000

上海愛儀通網絡科技有限公司更新時間：2025-05-30 09:32:31

銷售范圍售全國

入駐年限第4年

營業執照已審核

同類產品TEM 透射電子顯微鏡(11件)

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產品特點

可搭配眾多高分辨率場發射槍 (FEG)
選擇高亮度 X-FEG 或超高亮度冷場發射槍 (X-CFEG)。X-CFEG 將極佳 (S)/TEM 成像及極佳能量分辨率相結合。

直觀的軟件
Thermo Scientific Velox 軟件可實現對多模式數據的快速、輕松的采集和分析。

更短的化學成分獲得周期
快速、精確的定量 EDS 分析可在 2D 和 3D 中揭示納米級細節，同時保持高潔凈度。

更好的圖像數據
高通量 STEM 成像采用同步多信號檢測，可為高質量圖像提供更高的對比度。

更多空間
為動態實驗添加特定用途的原位樣品桿。

高質量 (S)TEM 圖像和準確的 EDS
通過創新且直觀的 Velox 軟件用戶界面采集高質量的 TEM 或 STEM 圖像。Velox 軟件中獨特的 EDS 吸收校正功能可實現極準確的定量。

高度可重復的數據采集
所有日常 TEM 調整、例如聚焦、共心高度、電子束移位、冷凝器光闌、電子束傾斜樞軸點和旋轉中心都是自動進行的，確保您始終從Z佳成像條件開始工作。實驗可以能夠再現的方式重復進行，從而使您能夠專注于研究而非儀器操作。

提高了生產率
超穩定的色譜柱、借助 SmartCam 的遠程操作和恒定功率物鏡，可進行快速模式和高電壓 (HT) 切換。多用戶環境的快速輕松切換。

詳細介紹

Talos F200X G2 透射電子顯微鏡

Thermo Scientific Talos F200X STEM 是一款掃描透射電子顯微鏡，其將出色的高分辨率 STEM 和 TEM 成像與業界領先的能量色散 X 射線光譜 (EDS) 信號檢測相結合。采用構合映射的 2D/3D 化學表征由具有獨特清潔度的 4 個柱內 SDD Super-X 探頭執行。Talos F200X 掃描透射電子顯微鏡在所有維度下均可實現極快速精準的 EDS 分析，以及在進行動態顯微鏡檢查時實現導航快速的高分辨率 TEM 和 STEM（HRTEM 和 HRSTEM）成像。Talos F200X 掃描透射電子顯微鏡還具有較低的環境敏感度；儀器外殼可調節 TEM 室中空氣壓力波、氣流和細微溫度變化的影響。

STEM 成像與化學分析

Talos F200X (S)TEM 可在多維度下對納米材料進行快速、精確的定量表征。由于具有旨在提高通量、精度和易用性的創新功能，Talos F200X (S)TEM 是院校、政府、半導體以及工業環境高級研究和分析的理想選擇。

最近對在高分辨率下進行大面積相關性成像的需求有所增加，因為這使研究人員在獲得統計學上穩定的數據的同時也能保留其觀測結果的背景。Thermo Scientific Maps 軟件（由 Thermo Scientific Velox 軟件啟用）自動采集樣品的一系列圖像，并將它們拼接在一起以形成一幅大尺寸最終圖像。甚至可以在無人值守的情況下進行圖像采集。 APW（自動化顆粒工作流程）包具有本節所述的所有優點，并利用 Thermo Scientific Avizo2D軟件在專用處理 PC 上添加了獨特的處理功能。您可以自動獲取大小、面積、周長、形狀、因子、接觸點等納米顆粒參數。全自動且無人值守軟件包可使您全天候使用 Talos F200X (S)TEM ，獲得更好的統計數據并顯著改善可重復性（因為不存在操作員偏差）。

Align Genie 自動化軟件減輕了新手操作員的學習負擔，減少了多用戶環境中的緊張氣氛，并為經驗豐富的操作員縮短了數據獲得周期。

性能數據

HRTEM 線分辨率	≤0.10 nm
STEM 分辨率	≤0.16 nm (X-FEG) ≤0.14 nm ，100 pA (X-CFEG)
Super-X EDS 系統	4 SDD 對稱設計、無窗、遮光板保護
電子能量損失光譜 (EELS) 能量分辨率	≤0.8 eV (X-FEG) ≤0.3 eV (X-CFEG
200 kV 下的槍亮度	1.8×109 A /cm2 srad (X-FEG) 2.4×109 A /cm2 srad (X-CFEG)