TNI LF-2000是目前市面上基于SEM電鏡下使用的高自動化程度的納米操作系統，也是一種能夠在SEM電鏡下提供可重復定位、低漂移、閉環運動控制定位的納米操作系統。

InSEM HT（高溫）通過在真空環境中單加熱尖端和樣品來測量高溫下的硬度、模量和硬度。INSEM?HT與掃描電子顯微鏡（SEM）和聚焦離子束（FIB）或立真空室兼容。

FT-NMT04納米機械測試系統是一種多功能的原位掃描電鏡/光纖納米壓頭，能夠準確量化材料在微觀和納米尺度上的力學行為。

NanoFlip產品既可以工作在真空環境下進行各種原位力學測試；也可以直接在大氣環境下測試。NanoFlip可進行硬度和楊氏模量測試、連續剛度測試（CSM）、力學性能譜圖（Mapping）、納米動態力

為了滿足現代材料研究的挑戰，Swift開發了一系列完全可定制的原位拉伸試樣臺。這些拉伸試樣臺適合多種顯微觀測系統，比如掃描電鏡、透射電鏡、光學顯微鏡、共聚焦顯微鏡等。